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本发明公开了一种膜厚测量辅助定位方法，由执行机构中的刻印单元在由挤出机挤出后冷却成型的铸片上刻印斜坡形印记，在采集模块从测厚仪获取薄膜剖面厚度曲线数据后，由分析处理模块进行处理并由同步模块实现与测厚仪扫描的起始同步；之后周期性地由分析处理模...
该专利属于浙江商业职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江商业职业技术学院授权不得商用。

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