温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种基于多尺度LTP特征的隐写分析方法和隐写分析装置，其中，隐写分析方法包括：基于贪心算法选择用于计算多尺度LTP图像特征的特征参数，以得到包含多组特征参数的参数集合，所述参数集合中的每组特征参数包括滤波器参数，以及以载体图像中...该专利属于北京大学;北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学;北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司授权不得商用。