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本公开提供了一种电子设备检测方法,用于检测第一电子设备,所述第一电子设备包括第一硬件组和第二硬件组,所述第二硬件组能够运行应用程序,所述方法包括,通过检测终端设备对所述第一硬件组进行检测,获得第一检测结果,通过特定应用程序对所述第二硬件组进...该专利属于北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司授权不得商用。