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本发明涉及一种两相流分层界面几何形状测量方法，用于测量具有电导率差异的两相流的分层界面形态，所采用的平行线阵列传感器包括两组平行线电极，一组分布在上游的同一个管道横截面上，均作为激励电极，另一组分布在下游的同一个管道横截面上，均作为接收电极...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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