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本专利申请涉及用于确定反射表面的均匀度的系统、确定设备外壳的表面的均匀度的系统、表面分析设备以及表面分析系统。确定反射表面的均匀度的系统包括：能够执行图像分析的计算设备；耦接到计算设备的光发射设备和光捕获设备，其中光发射设备被配置为将光图案...
该专利属于苹果公司所有，仅供学习研究参考，未经过苹果公司授权不得商用。

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