温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明描述了用于测试电子器件的装置的测试头的接触探针，其包括按照接触尖端和接触头(30A，30B)之间的纵向方向基本延伸的主体，所述接触探针(30)包括至少一个多层结构(31)和外涂层(35)，所述至少一个多层结构(31)包括至少一个内层或...
该专利属于泰克诺探头公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克诺探头公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。