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本发明涉及用于状态机中的检测的方法及系统。本发明涉及一种包含数据分析元件(171、173)的装置，所述数据分析元件(171、173)包含多个存储器单元(80)。所述存储器单元(80)分析数据流的至少一部分且输出所述分析的结果。所述装置还包含...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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