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本发明涉及一种测量部分相干光空间关联结构的方法及系统，所述方法包括：待测光源引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换，记录光源传输至傅里叶平面处的光强；待测光源不引入扰动、经过多孔阵列结构输出后进行傅里叶变换，记录光源传输至傅里叶平面...
该专利属于苏州大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州大学授权不得商用。

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