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本发明公开了一种用于改善面板性能的电路结构,其包括:至少一采集点,所述采集点位于液晶显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极线上,在所述采集点设有一监测线;所述监测线与薄膜晶体管基板的公共电极线同层设置,所述监测线用以采集薄膜晶体管基板的公共电极...该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种用于改善面板性能的电路结构,其包括:至少一采集点,所述采集点位于液晶显示面板的薄膜晶体管基板的公共电极线上,在所述采集点设有一监测线;所述监测线与薄膜晶体管基板的公共电极线同层设置,所述监测线用以采集薄膜晶体管基板的公共电极...