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本发明提供一种可旋转试样的X射线荧光衍射集成分析仪，包括X射线发生器、X射线衍射分析组件和荧光探测器，还包括其上下两层分别为荧光样品托盘和衍射样品托盘的双层旋转台，荧光样品托盘上设有若干荧光分析样品槽和若干通光孔，衍射样品托盘上设有与若干通...
该专利属于中国地质大学（武汉）所有，仅供学习研究参考，未经过中国地质大学（武汉）授权不得商用。

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