温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种粉末压片X射线荧光光谱法测定金属硅中杂质的方法，包括以下步骤：1)取金属硅粉标准品和待测金属硅粉，再将所述金属硅粉标准品、待测金属硅粉分别先与H3BO3和助研剂混合搅拌均匀，得到混合物，再将所述混合物装于研磨罐中，然后于25～...
该专利属于苏州浪声科学仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州浪声科学仪器有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。