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本发明是基于GaN原始衬底去除生长金刚石的一种方法，属于半导体工艺技术领域，通过非自支撑氮化镓对粘及粘结剂中加入低热膨胀系数、高热导率材料，以CVD法在氮化镓上沉积金刚石膜，实现金刚石基氮化镓晶片。其步骤如下：1)非自支撑的GaN晶片清洗；...
该专利属于北京科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京科技大学授权不得商用。

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