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本发明属于带电粒子光学成像技术领域,尤其涉及一种带电粒子圆磁透镜。包括通电线圈及环形铁壳,通电线圈位于环形铁壳中,环形铁壳上具有至少一个环形间隙,环形间隙位于环形铁壳的端面。通过在端面磁路引入环形间隙,解决了一些实验样品由于无法置于磁透镜内...该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。
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本发明属于带电粒子光学成像技术领域,尤其涉及一种带电粒子圆磁透镜。包括通电线圈及环形铁壳,通电线圈位于环形铁壳中,环形铁壳上具有至少一个环形间隙,环形间隙位于环形铁壳的端面。通过在端面磁路引入环形间隙,解决了一些实验样品由于无法置于磁透镜内...