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本发明公开了一种基于薄膜厚度测量辅助定位的膜厚监测系统，其包括采集单元、处理单元，以及强度调节单元、调焦单元、驱动单元、执行机构和数据输出单元，执行机构中刻印单元的刻印头与挤出机模头螺栓有固定位置关系，通过在铸片的预设位置上刻印出V形或U形...
该专利属于浙江商业职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江商业职业技术学院授权不得商用。

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