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本申请公开了一种机顶盒可靠性的测试方法及系统，涉及测试技术领域，为解决待测试机顶盒可靠性的测试准确度低的问题而发明。本申请的系统包括：放置于可程式恒温恒湿试验箱内部的待测试机顶盒，可程式恒温恒湿试验箱用于为待测试机顶盒提供恒温恒湿的环境；分...
该专利属于湖南国科微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过湖南国科微电子股份有限公司授权不得商用。

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