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本实用新型涉及元器件的技术领域，更具体地，涉及一种元器件高低温测量装置。一种元器件高低温测量装置，包括试验箱、设于试验箱内的支架，支架上设有多个元器件，还包括检测装置，多个元器件通过线路连接检测装置，其中，所述的支架上还设有基准点，基准点通...
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