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系统（20）适用于测量流入与初级导电体（34；36；38）电连接的至少一个次级导电体（42A，44A，46A，...，42N，44N，46N）中的电流的电能，该初级（34；36；38）和该次级（42A，...，46N）导体具有基本相同的电压...
该专利属于施耐德电器工业公司所有，仅供学习研究参考，未经过施耐德电器工业公司授权不得商用。

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