下载一种扩散阻挡层制备方法及铜互连结构的技术资料

文档序号:16271720

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本发明涉及一种扩散阻挡层制备方法及铜互连结构,所述制备方法包括以下步骤:在低k电介质层上沉积钼金属层,其中所述低k电介质层形成在硅片上,所述钼金属层的厚度为3‑5nm;对沉积的钼金属层进行退火处理,形成扩散阻挡层。本发明通过沉积钼金属层并进...
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