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一种原位双轴裂纹扩展路径自动跟踪测量系统及测量方法，在光学平台台面上固定设置有十字滑台，十字滑台的台面上固定设置有双向加载装置，双向加载装置的上方对应被测试样设置有用于采集图像的电子显微镜，电子显微镜固定安装在粗微调显微支架上，粗微调显微支...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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