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本发明涉及材料领域，一种测量薄膜导热系数的方法，确定待测薄膜厚度；测量薄膜对光的吸收率；将薄膜转移到衬底上；可见光源从衬底下方发射；可见光直接进入光电二极管，位移台在薄膜上方平面内匀速运动，光电二极管采集光信号，得二维照明光功率密度分布图；...
该专利属于金华职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过金华职业技术学院授权不得商用。

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