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本发明公开了一种基于荧光磁粉的智能缺陷识别系统，该系统主要包括场景深度信息采集、磁痕图像预处理、支持向量机算法（SVM）与模糊C均值聚类算法（FCM）的彩色图像分割、形态学处理和特征提取、朴素贝叶斯分类器（NBC）来进行裂纹识别。...
该专利属于西南科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西南科技大学授权不得商用。

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