下载测试反应装置、芯片检测装置及其控制方法的技术资料

文档序号:16174582

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本发明提供一种测试反应装置、芯片检测装置及其控制方法。测试反应装置包括盖体、恒温板和加热装置,恒温板在朝向所述盖体的端面上设置有液体槽,盖体和液体槽之间形成反应腔室,加热装置包括多个邻接在恒温板底面的加热片,多个加热片沿恒温板的延伸方向布置...
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