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为解决上述技术问题,本发明涉及一种测量设备领域,更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备,可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸,采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度,滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间,传感器滑动座与滑动块相连接,中...该专利属于复朗施(北京)纳米科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过复朗施(北京)纳米科技有限公司授权不得商用。
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为解决上述技术问题,本发明涉及一种测量设备领域,更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备,可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸,采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度,滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间,传感器滑动座与滑动块相连接,中...