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用于光学元件加工质量在线检测的光纤干涉共焦系统技术方案
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下载用于光学元件加工质量在线检测的光纤干涉共焦系统的技术资料
文档序号:16173630
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本发明公开了一种用于光学元件加工质量在线检测的光纤干涉共焦系统,系统采用光纤器件将白光干涉系统和激光共焦系统进行了共光路集成,以实现光学元件多参数同步在线检测。其中,使用光延迟线和压电陶瓷相结合的光程调整方法以迅速定位干涉位置并实现轴向扫描...
该专利属于西安交通大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安交通大学授权不得商用。
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