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本发明涉及光学测量领域，一种测量光电二极管响应的线性度的装置，包括暗箱、光源I、电源I、计算机、电流表、电源II、光源II、待测光电二极管，所述电源I、计算机、电流表、电源II均位于所述暗箱外，所述光源I、光源II、电源I、电源II、待测光...
该专利属于金华职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过金华职业技术学院授权不得商用。

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