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本实用新型公开一种发光元件检测设备，用于检测发光元件。发光元件包括彼此叠置的第一部分结构与第二部分结构。发光元件检测装置包括载台以及夹具。载台包括承载面以及凹设于承载面的凹槽结构。承载面用以承载发光元件，凹槽结构具有容置空间。夹具可移动地配...
该专利属于联京光电股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联京光电股份有限公司授权不得商用。

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