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利用LIBS光谱的快速材料分析制造技术
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下载利用LIBS光谱的快速材料分析的技术资料
文档序号:16108202
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文中描述了一种LIBS测量系统,该LIBS测量系统提供了位于大致V形的斜槽或套管中的孔口、孔或开口,所述孔口、孔或开口允许从所述斜槽的底部接近待分析的材料。激光束穿过所述孔对准,光电探测器组件收集穿过所述孔而返回的光(信号)。在收到启动信号...
该专利属于TSI公司所有,仅供学习研究参考,未经过TSI公司授权不得商用。
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