下载半导体基板以及半导体基板的检查方法的技术资料

文档序号:16049476

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本发明提供一种半导体基板,其中,在使用外延生长法在Si基板上形成III族氮化物半导体层的情况下,满足该III族氮化物半导体层要求的耐电压等特性,并且,在确保薄膜电阻等物性值的面内均匀性的同时翘曲量小。本发明提供一种半导体基板,其中,硅基板上...
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