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公开了用于测量样品的光学特性的方法。该系统被配置成对与样品的特性测量有关的信号进行采样，并且基于在大致同时的情况下获取的信号来执行信号的基于软件的相干检测，以生成所得测量。这易于实时显示或生成希望的测量。在一个配置中，该系统被配置成引导入射...
该专利属于新港公司所有，仅供学习研究参考，未经过新港公司授权不得商用。

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