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分析装置(1)具备光扫描部(4)和脉冲波形分析部(30)。光扫描部(4)对在表面上固定了与微粒子(16)相结合的检测对象(12)的基板(2)进行光学扫描，从基板(2)取得检测信号。脉冲波形分析部(30)具有判定检测信号的脉冲波形的峰值是否存...
该专利属于JVC建伍株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过JVC建伍株式会社授权不得商用。

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