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本发明公开一种基于Hadoop的短路关键面积提取方法，实现步骤为：(1)读取集成电路的版图图像；(2)上传集成电路的版图图像；(3)分块存储集成电路版图图像；(4)将数据节点的版图图像分片；(5)转换版图图像为映射类Map的输入键值对；(6...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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