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本发明涉及一种裂结法测量单分子电学性能的系统及其使用方法，该系统包括控制模块、直线位移驱动器、升降台、压电陶瓷管、金探针电极、样品台、数据采集模块、数据显示模块、数据导出模块；所述控制模块为PC机；所述样品台呈水平矩形薄板状；该系统的使用方...
该专利属于武汉科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉科技大学授权不得商用。

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