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基于小波分析的叶片裂纹位置及深度识别方法技术
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文档序号:16035981
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本发明公开了基于小波分析的叶片裂纹位置及深度识别方法,属于设备故障诊断领域。首先,通过测试系统获取故障叶片的基本振型位移参数(即位移值)。其次,选取合适的小波基和小波尺度对振型数据进行多尺度连续小波变换,得到小波变换系数图。可以从图中明显看...
该专利属于北京工业大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京工业大学授权不得商用。
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