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一种二维表面等离子体最佳激发角位置的高精度识别方法技术
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文档序号:16035772
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该发明公开了一种二维表面等离子体(SPR)最佳激发角位置的高精度识别方法。所述方法包括:通过局部二值化和霍夫变换粗略定位出通光孔径圆的位置,并将与物镜后焦面共轭的图像传感器采集到的物镜后焦面图像裁剪为包含了通光孔径圆的W×W正方形矩阵图像;...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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