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本发明提出一种有限物距畸变测量方法及系统，该方法包括以下步骤：S1：提供一目标测量平面，所述目标测量平面上阵列式排布有多个测量标识点，所述测量标识点的实际间距已知；S2：镜头调整物距，在调整后的物距下对所述目标测量平面进行图像拍摄；S3：识...
该专利属于上海航天测控通信研究所所有，仅供学习研究参考，未经过上海航天测控通信研究所授权不得商用。

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