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本发明涉及用于使用离轴检测器测量薄片材料或其他材料的混浊度的设备和方法，该方法包括用沿着光学路径的第一光照亮材料。方法还包括使用第一检测器来捕获透射通过材料的第二光的图像，其中第二光的第一部分遵循第一光的光学路径，并且第二光的第二部分从光学...
该专利属于霍尼韦尔国际公司所有，仅供学习研究参考，未经过霍尼韦尔国际公司授权不得商用。

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