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本发明公开了一种IGBT模块特性老化装置，属于IGBT老化设备技术领域，解决了我国自主生产的IGBT元件没有一款配套的、可靠的、低成本的老化设备，生产出的IGBT产品可靠性难以得到保证的问题。主要包括IGBT反向漏电流测试电路和大电流老化试...
该专利属于扬州乔恒电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过扬州乔恒电子有限公司授权不得商用。

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