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本发明公开了测试系统、分类系统和测试方法。测试系统用于测试待测件，待测件具有至少一个输入端和/或至少一个输出端，测试系统包括：输入测试模块，用于根据控制信号产生第一毫米波信号；输出测试模块，用于根据控制信号对第二毫米波信号进行检测；连接模块...
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