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本实用新型涉及一种多功能数字芯片测试仪，包括第一控制模块、第二控制模块，所述第一控制模块连接有电平转换模块、键盘模块、LCD显示模块、存储器模块、电源控制模块；所述第二控制模块连接有IC测试插座、模拟开关，所述模拟开关与所述IC测试插座相连...
该专利属于厦门大学嘉庚学院所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学嘉庚学院授权不得商用。

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