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本发明涉及一种ROTDR性能指标自动测试校准系统及方法，该系统包括：系统主机，所述系统主机连接被测ROTDR的一端，被测ROTDR的另一端连接1×8低损耗光开关，所述1×8低损耗光开关的另一端第一通道至第八通道依次分别连接一个光纤温度系数被...
该专利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第四十一研究所授权不得商用。

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