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本发明公开了一种电路板自动测试系统的校准方法及系统，方法包括：S1.确定光学校准点的第一坐标，所述第一坐标为光学校准点在图案坐标系中的坐标；S2.控制测试探头移动至所述光学校准点，获取电路板的光学图像；S3.对所述光学图像进行图像分析，确定...
该专利属于深圳市赛伦北斗科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市赛伦北斗科技有限责任公司授权不得商用。

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