温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及通信电子技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法。用于降低现有技术中由于测试而增加的芯片生产成本。该方法包括：将待测试芯片的通用输入输出引脚两两连接；按照预设方式对成对的通用输入输出引脚进行配置；判断成对的通用输入输出引脚是否可以进行通...
该专利属于北京君正集成电路股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京君正集成电路股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。