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本发明涉及一种用于探测在发光二极管设备（2）中的至少一个发光二极管（3）的失灵的方法，利用恒流源（6）经由供电接头（7）给所述发光二极管设备施加供电电流（I），并针对该发光二极管设备，借助相应的开关部件（4）通过相应的短路（31）分别单独地...
该专利属于大陆汽车有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大陆汽车有限公司授权不得商用。

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