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本发明适用于胚胎电子细胞阵列技术领域，提供了一种总线胚胎电子细胞阵列中电子细胞数目选择方法。该方法包括：分析总线胚胎电子细胞阵列的结构和工作特点，采用多态系统理论，建立总线胚胎电子细胞阵列的可靠性分析模型；以MOS管消耗数目为硬件资源消耗的...
该专利属于中国人民解放军军械工程学院所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军军械工程学院授权不得商用。

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