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一种扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法，在扫频光学相干层析成像系统的参考臂中放置一个透明薄片，利用该透明薄片可以获得光程差为2nd的固定光程差干涉信号。通过密集采样采集系统的干涉信号，该信号包含薄片的干涉信号和样品干涉信号，利用薄片的干...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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