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一种低蚀刻的去除光刻胶残留物的清洗液制造技术
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文档序号:15790643
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本发明公开了一种用于去除光阻残留物的清洗液及其组成。这种去除光阻残留物的清洗液含有:(a)季胺氢氧化物(b)醇胺(c)溶剂(d)水(e)C...
该专利属于安集微电子(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过安集微电子(上海)有限公司授权不得商用。
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