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本发明公开了一种基于遗传算法的超声传感器阵列参数的分析方法，用于对GIS壳体焊缝内部缺陷进行检测，属于无损检测领域。该方法以全聚焦成像法则为目标函数，通过遗传算法对超声传感器阵列的中心频率和孔径尺寸进行优化。该方法的优势在于通过与优化算法相...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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