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本发明涉及一种基于光谱干涉装置的测量方法，主要解决现有技术中存在的测量精度不足的技术问题，本发明通过采用所述测量系统包括光源，与光源依次连接的扩束准直透镜、起偏器、检偏器、自聚焦透镜、光谱仪及数据处理单元；待测双折射晶体连接于所述起偏器与检...
该专利属于张家港市欧微自动化研发有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过张家港市欧微自动化研发有限公司授权不得商用。

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