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本发明公开了一种Flash存储器的优化测试方法，其包括：生成测试向量；对所述测试向量的算法进行优化，自动适应被测Flash存储器在本次测试中的最小操作时间，并且按该最小操作时间进行操作，使测试时间接近因Flash存储器固有特性限制的最小时间...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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