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本发明涉及CAN现场总线领域，为提高CAN控制器芯片测试效率并简化测试操作，并给出对应的测试方法，用以实现在测试覆盖率较高的情况下，简化测试操作并有效缩短CAN总线控制器芯片的测试周期。为此，本发明，CAN控制器芯片功能测试系统，结构是，一...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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